纳米库尔特技术原理
在电解质溶液中，NanoCoulter™ N-Chip™芯片纳米孔的两侧设有正负电极，电流通过时，在小孔周围形成“电感应区”。当每个颗粒通过小孔时，会分别置换出等体积的导电溶液，导致该区域电阻短暂增加，形成瞬时电阻脉冲。脉冲幅度与颗粒粒径成正比，数量与颗粒浓度成正比。由于颗粒是逐个通过并独立分析的，因此实现了真正意义上的单颗粒检测。
当颗粒仅受到电场力作用时，其电泳迁移速度与带电量即Zeta电位成正比。在外加电场的作用下，带电颗粒向相反电荷的电极移动，移动速度与Zeta电位的大小相关。
操作流程?
为什么选择 NanoCoulter?
单颗粒分析
逐个分析每个过孔颗粒，对多分散样本有更高测量精度。
多维度检测
单次检测可获得颗粒粒径、浓度、电位等多维数据。
超高分辨率
粒径分辨率可达1nm，满足高精度应用场景。
超高精准度
高度线性的浓度定量(R²>0.999)，在所有测试中均保持低CV。
数据更真实
不受样本光学属性的影响，数据不拟合，反映样本真实状况。
简单易上手
预校准芯片，操作便捷，软件界面友好。无需清洗、维护或校准。
打破 DLS and NTA 光学原理局限
1:1:1 mix of CRM particles
100/150/200 nm
100/150/200 nm
DLS无法准确分析多分散样品，导致粒径偏差，且无法测量颗粒浓度。
1:1:1 mix of CRM particles
100/150/200 nm
100/150/200 nm
NTA可以辨别双峰混合，但不能分辨三峰或四峰的混合。
1:1:1:1 mix of CRM particles
80/120/160/200 nm
80/120/160/200 nm
RPS能够在不了解颗粒特征的情况下准确测量样本真实直径，高分辨区分多分散混合物。
新闻资讯
2026半导体与光学材料超精密加工技术及应用大会将于2026年10月20日在苏州白金汉爵大酒店（相城店）举办，大会聚焦超精密切削、研磨、抛光、刻蚀、镀膜及检测等核心工艺，集中展示最新研究成果、先进装备与应用案例，并设半导体与光学材料专题交流环节，旨在推动产业链上下游合作，加速技术攻关与产业化应用进程。
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